您現在的位置：中國農業儀器網 > 技術文章 > 葉面積測量儀研究玉米穗三葉與QTL定位

葉面積測量儀研究玉米穗三葉與QTL定位

來源： http://www.yangzhuc.com 　類別：技術文章　更新時間：2014-12-02　閱讀次

      高產是玉米育種永恒追求的目標，這也說明對于其產量的影響是有多重因素構成的。果穗產量性狀是其直接表現。葉片是玉米光合作用的主要器官，葉面積是決定光合產物的一個重要指標，對于產量形成具有重要的作用。通過葉面積測量儀研究表明，玉米穗三葉面積與玉米單株產量呈顯著的正相關，其中穗位葉面積與產量關系最為密切。
　　
      葉面積測量儀研究玉米穗三葉面積，尤其是穗位葉面積的遺傳機制，對高效選育高產、優質、抗病、廣適玉米新雜交種具有重要意義。在農作物葉面積QTL定位方面，水稻上研究比較多，尤其是對水稻劍葉形狀和大小進行了大量的QTL定位工作。而葉面積儀在玉米葉面積QTL的研究中，穗位葉面積相關的報道比較少。
　　
      對F2單株材料穗位葉面積進行正態分布檢驗，葉面積測量儀統計量可知：從變幅和變異系數看，群體穗位葉面積性狀的變異較大；從偏度和峰值看，葉面積未顯著偏離正態分布，符合QTL定位的基本要求，可以進行QTL檢測。
　　
      農作物的株高、葉面積測量儀的測定以及產量等農藝性狀屬于數量性狀，自20世紀80年代以來，分子標記技術以及QTL定位方法的快速發展為復雜數量性狀的研究提供了強有力的手段。隨著分子遺傳學的迅猛發展，國內外已經構建了不少主要農作物（水稻、玉米、小麥）的分子標記連鎖圖譜，并結合葉面積測量儀的儀器應用為農藝性狀的QTL定位和遺傳分析打下了基礎。　　