一、光學(xué)測樹羅盤儀用途
DQL-6光學(xué)測樹羅盤儀，適用于森林資源調(diào)查中的各種測量工作。如距離、水平、高差、坡角等。同時(shí)，可以測定和標(biāo)定樹干任意部位的高度和直徑，每公頃胸高斷面積、立木形率、區(qū)分求積、造材求積等。也可用農(nóng)田水利、土地規(guī)劃及一般工程的測量。
二、光學(xué)測樹羅盤儀主要技術(shù)參數(shù)
望遠(yuǎn)鏡：
放大倍率：16X
有效孔徑：20mm
視場角：2°30′
視距乘常數(shù)：50,100
視距加常數(shù)：0
最短視距：2m
磁羅盤：
磁針長度：67mm
度盤格值：1°
豎直盤：
度盤格值：1°
游標(biāo)值：6′
測高量程：±40mm
水準(zhǔn)器：
圓水準(zhǔn)器：15′/2mm
三、光學(xué)測樹羅盤儀儀器結(jié)構(gòu)：
儀器主要由望遠(yuǎn)鏡組、豎盤組、羅盤組、安平組四部分組成。望遠(yuǎn)鏡組1為16倍內(nèi)調(diào)焦式，并可在垂直面內(nèi)作360度回轉(zhuǎn)，它不僅用來瞄準(zhǔn)和測距，而且在分劃板上設(shè)有測徑標(biāo)尺可用來測定樹干直徑。豎盤組不僅是望遠(yuǎn)鏡的回轉(zhuǎn)軸支架，而且裝有與望遠(yuǎn)鏡同步轉(zhuǎn)動(dòng)的豎直度盤，盤面上刻有水平距為10m、20mm、15mm、30mm的測高尺，在水平距30m處可測量±40m高度。盤面上部還刻有角度尺，可供傾角測量用。為操作方便，備有橫軸止動(dòng)螺旋和微調(diào)螺旋，可用于精確調(diào)整。
羅盤組由磁針和磁針度盤組成。主要用于磁方位測量，為保證測量精度，羅盤合上還裝有圓形水準(zhǔn)器。
安平機(jī)構(gòu)，是球臼式結(jié)構(gòu)，即可以與三腳架聯(lián)接，又可以隨意調(diào)節(jié)，可迅速方便地將儀器安平。
四、光學(xué)測樹羅盤儀使用方法
1、基本操作
①儀器安平
將儀器穩(wěn)固的裝置在三腳架上，并使儀器的各可調(diào)部位均處中間狀態(tài)，調(diào)整球臼機(jī)構(gòu)使羅盤之圓水準(zhǔn)汽泡居中。
②望遠(yuǎn)鏡調(diào)節(jié)
首先旋轉(zhuǎn)目鏡視度圈，使眼睛清晰的看清分劃板十字絲，轉(zhuǎn)動(dòng)儀器使望遠(yuǎn)鏡粗瞄準(zhǔn)器大致瞄準(zhǔn)目標(biāo)或標(biāo)尺，再調(diào)節(jié)調(diào)焦輪，使之清晰的看清目標(biāo)。
2、方位測量
安平儀器，放開磁針止動(dòng)螺旋，望遠(yuǎn)鏡十字絲豎絲瞄準(zhǔn)目標(biāo)，待磁針靜止后，即可讀取該目標(biāo)方位。
3、距離測量
調(diào)節(jié)望遠(yuǎn)鏡至清晰的看清標(biāo)尺刻度，讀取上、下夾距絲在標(biāo)尺上所間隔的公分?jǐn)?shù)，乘以常數(shù)50，即得出儀器中心到標(biāo)尺的距離；如讀取上、中兩絲或中、下兩絲在標(biāo)尺上所間隔的公分?jǐn)?shù)，則乘以常數(shù)100，即得出儀器中心到標(biāo)尺的實(shí)際距離。在測量時(shí)為了讀數(shù)方便，可以少量轉(zhuǎn)動(dòng)微調(diào)螺旋，使之基中一橫絲處于標(biāo)尺上公分整數(shù)亦可。
4、角度測量
儀器安平后，調(diào)節(jié)望遠(yuǎn)鏡通過分劃板橫絲瞄準(zhǔn)被測目標(biāo)后，可以在豎直度盤的角度尺上直接讀取角度。
5、高度測量
根據(jù)作業(yè)條件和實(shí)際需要，可將儀器安置在水平距為10m、15m、20m、30m任意一點(diǎn)，安平儀器后，用望遠(yuǎn)鏡橫絲瞄準(zhǔn)被測目標(biāo)，然后可以在豎直度盤上所對應(yīng)的水平距高度尺上讀取其高度。
五、光學(xué)測樹羅盤儀儀器保養(yǎng)及注意事項(xiàng)
1、儀器出廠前已經(jīng)過校驗(yàn)，如儀器經(jīng)過長途運(yùn)輸、磁撞、劇烈震動(dòng)或長期不曾使用時(shí)，在使用前應(yīng)對圓形水準(zhǔn)器安平精度進(jìn)行檢查，如有誤可通過三個(gè)帶孔螺釘進(jìn)行校正。
2、儀器使用完畢后，應(yīng)將磁針鎖住以免軸尖磨損。各調(diào)整機(jī)構(gòu)應(yīng)復(fù)中間狀態(tài)，各制動(dòng)機(jī)構(gòu)應(yīng)妥善鎖緊。
3、儀器應(yīng)保存在干燥清潔處，防止各光學(xué)件生霉及金屬件銹蝕。
4、使用中望遠(yuǎn)鏡光學(xué)零件表面應(yīng)避免污物觸及，儀器經(jīng)維修或拆裝后，必須重新校準(zhǔn)后方可使用。
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